介质的散射衰减与()、()和()有关。因此探伤晶粒较粗大的工件时,常常选用较低的()。

来源: 技能等级    技术监督质检职业技能考试   

介质的散射衰减与()、()和()有关。因此探伤晶粒较粗大的工件时,常常选用较低的()。

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