晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

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晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

A、 A、垂直法

B、 B、斜射法

C、 C、表面波法

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答案解析